
高分辨透射电子显微镜系统JEM-F200 |
主要用于材料显微结构表征、成分分析,具备TEM、STEM成像;能谱点、线、面分析等功能。 1.加速电压:200kV 2.放大倍数:50-1,500,000x(TEM);100-150,000,000x(STEM) 3.点分辨率:0.23nm(TEM);0.16nm(STEM) 4.元素分析范围:4B至92U 联系人:李飞 电话:0532-80662662 |

激光共聚焦显微镜FluoViewTM FV1000 |
1.主扫和双扫系统 2.荧光和明场观察系统 3.多线氩离子激光器:458nm、488nm、515nm 4.长寿命半导体激光器:405nm、559nm、635nm 5.三个荧光检测通道,一个透射光检测通道 6.全息光栅分光(2nm高分辨光栅和精确步进狭缝) 7.荧光带宽1~100nm,光谱扫描范围400~800nm 8.独立双扫描单元,连续变倍范围×1.0~×50
联系人:杨春鹏 电话:0532-80662671
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原子力显微镜Agilent5400 AFM |
1.扫描范围:水平方向≤100μm,垂直方向≤8μm 2.噪音水平:水平方向≤1nmRMS,垂直方向≤0.1nmRMS 3.样品尺寸:开放式平台系统,提供各种超大样品的测量 4.Lakeshore温控加热样品台:温度范围:室温~250℃(精度0.1℃)
联系人:杨春鹏 电话:0532-80662671
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冷场发射扫描电子显微镜Hitachi S-4800 |
1.二次电子分辨率:1.4nm(1kV,减速模式);1nm(15kV) 2.电子枪:冷场发射电子源 3.加速电压:0.5 ~30 kV 4.放大倍数:×20 ~×800,000 5.探测器:低位/高位二次电子探测器
联系人:燕晓飞 电话:0532-80662672
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透射电子显微镜 H-7650 |
1.点分辨率:0.36 nm 线分辨率:0.204 nm 2.加速电压:40 ~120 kV 3.放大倍数 ×200 ~×200,000 (高反差模式) ×4,000 ~×600,000 (高分辨模式) 4.高分辨数字CCD(400万像素),30幅/秒快速读取。
联系人:李飞 电话:0532-80662662
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TGA-DSC同步热分析仪 |
1.天平分辨率:0.1ug 2.天平称量范围:0—5g 3.温度范围:25—1600℃ 4.升温速率:0.001-50K/min 5.热焓精确度:1%(In)
联系人:李茹 电话:0532-80662661
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激光纳米粒度仪ZetasizerNano S90 |
1.测量范围:2nm-3um 2.检测方式:90°光散射检测设置 3.样品浓度:<0.5g/L
联系人:李茹 电话:0532-80662661
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化学吸附仪AutoChemⅡ2920 |
1.高温炉:温度范围40~1100℃ ;脱气温度范围40~450℃ 2.2路气体接口,可分别接反应气、载气和脉冲进样气体 3.质谱仪:检测范围<200amu
联系人:杨春鹏 电话:0532-80662671 |

物理吸附仪麦克2460 |
1.分析检测范围 比表面积: 0.0005m2/g 无上限 孔径分析范围 :3.5 Å 到 5000 Å Å 孔体积最小检测: 0.0001 cc/g 2.样品称样:100-200mg 3.分析检测:可进行比表面积,介孔,全孔测试分析,气氛可满足氮气,二氧化碳等多种气体变温条件下的吸附分析。 4.脱气单元:独立的六个脱气站,温度范围从室温至300℃。. 5.仪器提供了全部的分析模型BET,Langmuir,BJH ,Dubinin-Radushkevich,, T-plot,: MP,HK,SF,DA,DFT/NLDFT模型等。
联系人:杨春鹏 电话:0532-80662671 |

元素分析仪varioEL Ⅲ |
1.操作模式:CHNS, CHN, CNS, N, S, O(with TCD), O (with IR as option) 2.标准偏差:≤0.1% 3.校正: 非线性校正曲线,长时间稳定 4.样品称样:0.02~1000mg 5.进样器: 标准型80孔位 6.分解温度:950~1200℃(锡容器燃烧时达1800℃) 联系人:李茹 电话:0532-80662661 |