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高分辨透射电子显微镜系统

JEM-F200

主要用于材料显微结构表征、成分分析，具备TEM、STEM成像；能谱点、线、面分析等功能。

1.加速电压：200kV

2.放大倍数：50-1,500,000x（TEM）；100-150,000,000x（STEM）

3.点分辨率：0.23nm（TEM）；0.16nm（STEM）

4.元素分析范围：4B至92U

日本电子

化学楼133

李飞

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离子研磨减薄仪

IM4000PLUS-

GL-2010

离子研磨模块：

（1）离子源：氩气。

（2）离子枪数：1个。

（3）加速电压：最大电压 6 kV。

（4）加工速度：500μm/h。

（5）截面加工最大样品尺寸：20(W)×12(D)×4(H)mm

（6）具有制冷功能。

离子减薄模块：

（6）离子束加速电压 ：0～10 kV（连续可调）。

（7）减薄速度（铜样品）：20μm/h。

（8）真空度（不送气） ：5×10-3 Pa。

离子束对样品的最小倾角 7°（普通试样台）、 2°   (抛光试样台)。

Hitachi、北京钢新冶金技术研究所

化学楼133

李飞、燕晓飞